2016年1月13日～15日、「ネプコンジャパン2016」の「第33回エレクトロテストジャパン」（プリント基板・実装業界の外観検査装置などの展示会）（東京ビッグサイト）において、韓国の大手外観検査装置メーカー「ミルテック」の日本法人「日本ミルテック株式会社」様の「企業PR」「外観検査装置」のプレゼンテーションをさせて頂きました。

世界初、「次世代極細チップ部品「0201」(200ミクロン×100ミクロン)の完全検査を実現した外観検査装置」を中心に「専門的知識」を織り交ぜながら、日本ミルテックが提供する「外観検査装置」の優位性の訴求を行い、大好評のうちに３日間の会期を終えることが出来ました。

その他「静電気可視化装置」等のご紹介し大きな反響を得ることが出来ました。